图书介绍
半导体器件的可靠性 第3集【2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载】

- 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 著
- 出版社: 北京:科学技术文献出版社;重庆分社
- ISBN:
- 出版时间:1977
- 标注页数:173页
- 文件大小:11MB
- 文件页数:176页
- 主题词:
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图书目录
目录1
空间军用的可靠半导体器件的制造1
金属化的失效22
水在氧化膜中的沾污76
微波固体器件的可靠性物理研究102
半导体器件鉴定与失效分析中采用红外评估技术的研究123
塑料封装集成电路可靠性鉴定129
塑料密封集成电路的可靠性152
微型电子器件的密封性实验(宇航空间标准AS1142)166
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